摘要：本发明公开了一种针对扫描测试中捕获功耗的优化方法，包括如下步骤：生成带扫描链网表；门控时钟单元分组；功耗约束单元设计；结合生成带扫描链的网表，进行芯片版图上设计，芯片版图设计包括布图规划、布局、时钟树综合和布线；在完成芯片版图设计后，将带扫描结构的门级网表、工艺库、时序约束文件和测试协议读入自动测试向量生成工具，进行可测试性设计规则检查，最后生成测试向量；对生成的测试向量进行门级仿真。本发明可以大幅度减少测试过程中的捕获功耗，同时本发明不会导致覆盖率下降和测试向量数目激增，不需要测试设计流程的改变，而且容易实现。
- 专利类型发明专利
- 申请人江苏东大集成电路系统工程技术有限公司;
- 发明人蔡志匡;陈慧;黄丹丹;李哲文;邵金梓;
- 地址210012 江苏省南京市雨花区花神大道文竹路23号
- 申请号CN201210592088.1
- 申请时间2012年12月29日
- 申请公布号CN103091620B
- 申请公布时间2014年12月10日
- 分类号G06F1/04(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
