摘要：一种干扰环境下的天线阵列阵元位置误差测定方法。针对干扰环境下利用已知的校正信号方向和天线阵列接收信号测定天线阵列阵元位置误差的问题，利用校正信号的方向对应的实际的天线阵列方向向量与噪声子空间的正交关系、补偿向量的所有元素的幅值等于1、补偿向量的第一个元素等于1的约束关系，通过迭代的方式从受到干扰的天线阵列的接收信号向量中确定校正信号的天线阵列方向向量对应的补偿向量，并利用补偿向量各个元素的相位与对应的阵元位置误差之间的关系，实现在干扰环境下测定天线阵列的阵元位置误差，进而为天线阵列的测向提供高精度的阵元位置信息。满足不断增长的传感器阵列信号处理系统对高精度波达方向估计、波束形成的性能要求。
- 专利类型发明专利
- 申请人同方电子科技有限公司;电子科技大学;
- 发明人徐保根;万群;万义和;汤四龙;龚辉;丁学科;陈睿;
- 地址332001 江西省九江市九瑞大道111号
- 申请号CN201210555306.4
- 申请时间2012年12月19日
- 申请公布号CN103064056B
- 申请公布时间2014年11月05日
- 分类号G01S3/02(2006.01)I;
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