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    集成式光纤环圈测试系统

      摘要:本发明提供一种集成式光纤环圈测试系统,包括底座、骨架、外罩,所述骨架设于所述底座上,所述外罩罩于所述底座与骨架之上,所述底座、骨架、外罩围成的空间形成密闭的上下分体层叠的电路腔和光路腔,所述电路腔内设调制解调电路,所述光路腔内设光路。采用上述集成式的光纤环圈测试系统,极大地减小了外界温度、电磁等对检测的干扰,从而有效地提高了检测的稳定性以及精度。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人天津光拓科技有限公司;
    • 发明人杨冬霞;李伟俊;王嘉宁;
    • 地址300392 天津市滨海新区华苑产业园区(环外)海泰发展五道16号B-4号楼2-1023室(高新区)
    • 申请号CN201210575005.8
    • 申请时间2012年12月21日
    • 申请公布号CN103063408A
    • 申请公布时间2013年04月24日
    • 分类号G01M11/00(2006.01)I;