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    干扰环境下天线阵列方向向量的测定方法

      摘要:该发明属于电子信息技术领域中的天线阵列方向向量的测定方法;包括初始化处理,建立接收信号向量样本自相关矩阵,确定当前及所有离散方向上噪声子空间及信号子空间,建立关联噪声子空间矩阵并确定各子空间矩阵最小奇异值,获取干扰信号方向与测试用信号源方向的角度差,天线阵列方向向量的测定。该发明在天线阵列接收信号向量样本的基础上,采用其样本自相关矩阵的噪声子空间、信号子空间、关联噪声子空间矩阵、关联信号子空间矩阵以及方向向量的第一个元素等于1的约束关系,实现干扰环境下对阵列天线方向向量的测定;具有测得的方向向量与实际方向向量之间的相关系数都大于97%,其中95%的相关系数都大于99%,相似度极高等特点。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人电子科技大学;同方电子科技有限公司;
    • 发明人万群;徐保根;万义和;汤四龙;殷吉昊;龚辉;丁学科;周志平;
    • 地址611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
    • 申请号CN201210590606.6
    • 申请时间2012年12月31日
    • 申请公布号CN103017728A
    • 申请公布时间2013年04月03日
    • 分类号G01C1/00(2006.01)I;