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    两状态系统的GO法中确定最小割集的新方法

      摘要:本发明属于系统可靠性分析技术领域,具体涉及一种两状态系统的GO法中确定最小割集的新方法。该方法先求出系统的最小路集,然后根据最小路集和最小割集的逻辑关系再求解出最小割集,可以不通过对系统可靠性的定量计算,而直接进行定性分析,从而使编程更加简化,并且提高了计算机的相应运算速度。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人中国辐射防护研究院;
    • 发明人王任泽;张建岗;
    • 地址030006 山西省太原市学府街102号
    • 申请号CN201110199397.8
    • 申请时间2011年07月15日
    • 申请公布号CN102880778A
    • 申请公布时间2013年01月16日
    • 分类号G06F19/00(2006.01)I;