摘要：本发明属于测量技术领域，具体涉及一种双通道电容法测量磁致伸缩的装置及其方法，该装置包括样品位置及探头位置调整机构（1），位于样品位置及探头位置调整机构（1）两端的外加磁场（18），以及具有第一电气箱通道（11）和第二电气箱通道（12）的位移数据处理系统（2）。本发明根据平行板电容原理，在外加磁场下，通过测量两组样品（14）所形成的可动的样品电极与探头电极（8-1，8-2）所形成的固定电极之间的电容变化，间接测量样品的伸长或缩短量，完成磁致伸缩测量并通过双通道显示。本发明的双通道电容法测量磁致伸缩的装置及其方法具有结构设计简单，测量精度高，可靠性强的优点。
- 专利类型发明专利
- 申请人安泰科技股份有限公司;
- 发明人郭金花;冯硕;倪晓俊;卢志超;李德仁;薄希辉;周少雄;
- 地址100081 北京市海淀区学院南路76号
- 申请号CN201210174911.7
- 申请时间2012年05月30日
- 申请公布号CN102707248B
- 申请公布时间2014年08月13日
- 分类号G01R33/18(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
