摘要：一种用来测试具有多种存储卡规格的读卡器的测试卡。该用来测试具有多种存储卡规格的读卡器的测试卡包含有一第一基板、一第二基板、一第一连接端子组与一第二连接端子组；该第二基板部分嵌合于该第一基板的一表面，且该第二基板的一长度实质上小于该第一基板的一长度；该第一连接端子组设置于该第一基板的该表面的一端，且不被该第二基板遮蔽，该第一连接端子组用来与一读卡器的一第一传输端子组接触以电性导通；该第二连接端子组设置于该第二基板的一端，该第二连接端子组用来在该第一连接端子组与该第一传输端子组接触时与该读卡器的一第二传输端子组接触以电性导通。本发明大幅减少测试时间，有效避免人为操作异常与节省人力成本来提升产能。
- 专利类型发明专利
- 申请人纬创资通(昆山)有限公司;纬创资通股份有限公司;
- 发明人王震;柳根金;廖兵;高凯;郭建;黄磊;黄印;
- 地址215300 江苏省昆山市出口加工区第一大道168号
- 申请号CN201110067382.6
- 申请时间2011年03月21日
- 申请公布号CN102692578B
- 申请公布时间2016年04月27日
- 分类号G01R31/01(2006.01)I;
教育装备采购网在线客服
京公网安备11010802043465号
