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    测量液晶空间光调制器gamma曲线的方法及系统

      摘要:本发明涉及一种测量液晶空间光调制器gamma曲线的方法及系统,其中方法包括:在液晶空间光调制器里写入灰度值按大小顺序连续变化的图像,然后通过光电传感器获取液晶空间光调制器里输出的测试灰度值,最后对获取的测试灰度值归一化处理,绘制gamma曲线,其中系统用CCD来接收输出的灰度信息,本发明减少了测量gamma曲线的工作量,数据稳定性也更高。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人北京国科世纪激光技术有限公司;
    • 发明人樊仲维;邱基斯;唐熊忻;侯立群;张晶;张国新;连富强;黄科;麻云凤;找天卓;王小发;
    • 地址100192 北京市海淀区西小口路66号东升科技园北领地C区7号楼二层
    • 申请号CN201110082615.X
    • 申请时间2011年04月01日
    • 申请公布号CN102621717A
    • 申请公布时间2012年08月01日
    • 分类号G02F1/13(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I;