• 首页
  • 装备资讯
  • 热点专题
  • 人物访谈
  • 政府采购
  • 产品库
  • 求购库
  • 企业库
  • 品牌排行
  • 院校库
  • 案例·技术
  • 会展信息
  • 教育装备采购网首页 > 知识产权 > 专利 > CN102541704B

    RAID卡的测试方法

      摘要:本发明提供了一种RAID卡的测试方法,包括:步骤S1:将RAID卡与多块硬盘相连接,从而形成RAID阵列;以及步骤S2:移除RAID阵列中的至少一块硬盘,并使用第一硬盘压力测试工具对RAID阵列进行压力测试。本发明所公开的RAID卡的测试方法能够全面准确地测试RAID卡的稳定性,省时省力。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人曙光信息产业股份有限公司;
    • 发明人李景运;
    • 地址300384 天津市西青区华苑产业区(环外)海泰华科大街15号1-3层
    • 申请号CN201110455790.9
    • 申请时间2011年12月31日
    • 申请公布号CN102541704B
    • 申请公布时间2014年08月13日
    • 分类号G06F11/22(2006.01)I;