摘要：本发明提供的一种λ/4电压电光开关的动态透过率的测试系统和测试方法，所述λ/4电压电光开关的动态透过率的测试系统包括激光光源、起偏器、λ/4波片、全反镜、偏振分光装置、λ/2波片、扩束装置、示波器和数据处理模块。在使用所述测试系统时，λ/4电压电光开关放置在起偏器和λ/4波片之间，示波器的波形探头沿着起偏器的反射光方向放置。本发明提供的λ/4电压电光开关的动态透过率的测试系统和测试方法能减少由激光光源脉冲能量起伏引起的误差，可以测量各种口径的λ/4电压电光开关的动态透过率。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京国科世纪激光技术有限公司;
- 发明人樊仲维;唐熊忻;邱基斯;张晶;张国新;
- 地址100192 北京市海淀区西小口路66号东升科技园北领地C区7号楼二层
- 申请号CN201010605663.8
- 申请时间2010年12月27日
- 申请公布号CN102486434A
- 申请公布时间2012年06月06日
- 分类号G01M11/02(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
