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    金属薄膜电容及其制备方法

      摘要:本发明公开了一种金属薄膜电容,包括绝缘基板,在绝缘基板的顶部设有带引出端Ⅰ的金属薄膜电极Ⅰ,在引出端Ⅰ接口外的金属薄膜电极Ⅰ表面上设有介质薄膜,在介质薄膜的顶部设有带引出端Ⅱ的金属薄膜电极Ⅱ。本发明采用五氧化二钽等既绝缘,又具有良好的化学稳定性的材料制成的薄膜作为电介质,解决一般薄膜电容器电介质的介电常数低,耐热差,成膜性差,机械强度低等问题。而且通过掩膜工艺,沉积两层金属膜作为上下电极,极大地减少了金属用量,降低了生产成本,制作工艺简单。选用钽、铌、铜、银等金属或它们合金作为金属薄膜电极,它们的电阻率很低,并且可耐高温高压,具有较高的稳定性,可适应多种复杂环境。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人贵州大学;
    • 发明人邓朝勇;马亚林;石健;崔瑞瑞;
    • 地址550003 贵州省贵阳市蔡家关贵州大学科技处
    • 申请号CN201110224068.4
    • 申请时间2011年08月05日
    • 申请公布号CN102385985A
    • 申请公布时间2012年03月21日
    • 分类号H01G4/005(2006.01)I;H01G4/228(2006.01)I;H01G4/10(2006.01)I;H01G4/008(2006.01)I;H01G4/33(2006.01)I;