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    双层介质空间中的声场测量与变换方法

      摘要:本发明公开了一种双层介质空间中的声场测量变换方法,该方法的步骤为:在声源S1附近建立两个同轴的柱面测量面,S1位于柱面内,分别测量两个测量面上的声压分布p1,p2;将介质分界面反射的声波看作是声源S1关于界面的镜像S2直接发出的声波;将每个测量面上的声压分解为自S1和S2处直接传播至各测量面的声压之和,即,p1(x1,y1,z1)=p11(x1,y1,z1)+p21(x1,y1,z1),p2(x2,y2,z2)=p12(x2,y2,z2)+p22(x2,y2,z2);上述两式左右两边分别进行二维傅立叶变换,并根据声源S1和虚声源S2在两个柱面测量面上的声压关系,即,求解波数域的声压分布,然后通过二维傅立叶逆变换得到空间域上声源S1直接传播至两个测量面上的声压p11,p12;最后利用测量得到的任一测量面上的来自S1的声压分布进行柱面全息反演变换,从而获得全空间的声压分布。该方法克服了由于界面的存在导致声场测量变换准确度差的缺陷,并且,变换过程简单,计算量小,速度快。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人北京神州普惠科技有限公司;
    • 发明人何元安;张若愚;聂佳;申和平;
    • 地址100085 北京市海淀区上地东路1号院3号楼华控大厦9层
    • 申请号CN201010110231.X
    • 申请时间2010年02月01日
    • 申请公布号CN102141431B
    • 申请公布时间2013年11月20日
    • 分类号G01H17/00(2006.01)I;