摘要：一种水分仪被测材料加热方法，包括步骤：获得加热初始温度Tc，设定被测材料的加热目标温度Th和被测材料的单位为分钟的升温时长t，以i表示温度调节次数，得到每个调节周期的平均升温![]()
其中调节周期ti＝t/i；以PID算法控制加热过程，在第i个调节周期，令PID调节的设定值![]()
直至TspμTh为止；保持目标温度Th恒定，直至测试加热结束。本发明解决了水分仪温度控制的难点，即难以到达精确的控制，以及在到达较高的目标温度时，容易发生较多的过冲现象，很难控制其稳定的问题，方便用户对不同的物质材料进行水分测定。
- 专利类型发明专利
- 申请人上海精密科学仪器有限公司;上海精科天美科学仪器有限公司;
- 发明人张翠翠;陈公伦;
- 地址200233 上海市徐汇区苍梧路7号
- 申请号CN201010591355.4
- 申请时间2010年12月16日
- 申请公布号CN102129263A
- 申请公布时间2011年07月20日
- 分类号G05D23/30(2006.01)I;G01N1/44(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
