摘要：本发明涉及一种光谱分析方法，包括以下步骤：A、建立分析模型：激发标准样品，获得原子光谱信息；从所述光谱信息中选择分析元素的m条特征谱线，m≥2；根据上述m条特征谱线对应的谱线数据及所述分析元素的元素含量/诱导含量，建立分析模型；B、分析未知样品：按照步骤A的方法获得未知样品相应分析元素的谱线数据，并代入上述分析模型，得到未知样品相应分析元素的含量。本发明具有分析模型稳健、分析准确、重现性好等优点。
- 专利类型发明专利
- 申请人聚光科技(杭州)股份有限公司;
- 发明人吴继明;张东明;吕全超;
- 地址310052 浙江省杭州市滨江区滨安路760号
- 申请号CN201010622421.X
- 申请时间2010年12月31日
- 申请公布号CN102103080B
- 申请公布时间2013年09月04日
- 分类号G01N21/62(2006.01)I;G01N21/63(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
