摘要：本发明涉及一种光谱分析方法，包括以下步骤：A1、建立分析模型：激发未知样品，获得原子光谱信息；根据未知样品的光谱信息，从用于建模的标准样品中选择对应于元素的建模标样，并根据建模标样建立元素含量/诱导含量与谱线数据之间的分析模型；A2、分析未知样品含量：将从所述光谱信息中获取的未知样品的谱线数据，代入上述分析模型，得出未知样品相应元素的含量。本发明具有分析准确、回归误差小、操作简便等优点。
- 专利类型发明专利
- 申请人聚光科技(杭州)股份有限公司;
- 发明人吕全超;吴继明;张东明;
- 地址310052 浙江省杭州市滨江区滨安路760号
- 申请号CN201010622416.9
- 申请时间2010年12月31日
- 申请公布号CN102103079B
- 申请公布时间2013年12月11日
- 分类号G01N21/62(2006.01)I;G01N21/63(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
