摘要：本发明公开了一种电容测量电路的校准方法，适用于对采用容抗法的电容测量电路的校准，包括：A、记录若干已知电容对应的AD采集值，分别求各已知电容的AD采集值与基准电容的AD采集值之间的差值；B、以所述各已知电容值和对应的所述差值构建该电容测量电路的输入输出特性方程；C、在实际环境中获取被测电容和基准电容的AD采集值，将它们的差值代入输入输出特性方程，得到被测电容值。采用本发明方法能够有效减小环境温湿度变化带来的随机电容测量误差。本发明还相应公开了一种电容测量电路的校准装置，包括输入输出特性方程构建模块和电容实际测量模块。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京航天测控技术开发公司;
- 发明人苏建军;蔄元臣;朱红;陈斐;郇黎明;
- 地址100041 北京市石景山区实兴东街3号
- 申请号CN201010546870.0
- 申请时间2010年11月16日
- 申请公布号CN102096057A
- 申请公布时间2011年06月15日
- 分类号G01R35/00(2006.01)I;G01R27/26(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
