摘要：本发明提供了一种物质分析系统，包括：光源，发出参比光、第一测量光和第二测量光；容器，用于在测量液体时盛装待测液体；第一反射装置，用于分别反射参比光和第一测量光，第一反射装置设置在待测固体的一侧；第一测量光在被第一反射装置反射前或反射后穿过所述容器；移动装置，用于在测量待测固体时移开所述第一反射装置，而使第二测量光照射到待测固体上；探测器，用于分别接收参比光、穿过待测液体后的第一测量光和被待测固体反射后的第二测量光，并分别转换为参比信号、第一测量信号和第二测量信号；分析单元，用于处理探测器传送来的信号，从而获知待测液体和待测固体的参数。本发明具有适用性好、结构简单、可靠性高、成本低等优点。
- 专利类型发明专利
- 申请人聚光科技(杭州)股份有限公司;北京聚光世达科技有限公司;北京英贤仪器有限公司;
- 发明人叶华俊;杨铁军;
- 地址310052 浙江省杭州市滨江区滨安路760号
- 申请号CN201010563241.9
- 申请时间2010年11月29日
- 申请公布号CN102095691A
- 申请公布时间2011年06月15日
- 分类号G01N21/25(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
