摘要：一种用于测试TD-LTE终端射频性能的方法和装置，方法步骤为，综合测试仪设置好终端入网所需的系统参数，将终端与综合测试仪进行射频连接；终端进行开机入网流程；在建立专用无线承载的信令流程中配置终端进行上行半持续调度指定终端在固定的上行子帧上传输上行PUSCH信号；综合测试仪采集并分析该PUSCH信号的射频性能。该装置包括主控单元、系统模拟器、射频处理单元和功率分配单元，射频处理单元具有射频发射单元、射频接收单元和本振单元。本发明使得综合测试仪可对终端进行射频性能测试。
- 专利类型发明专利
- 申请人湖北众友科技实业股份有限公司;
- 发明人罗先礼;朱富利;张家平;王波;王海;
- 地址430074 湖北省武汉市高新技术开发区光谷一路众友科技
- 申请号CN201010272385.9
- 申请时间2010年09月02日
- 申请公布号CN101958757B
- 申请公布时间2014年08月20日
- 分类号H04W24/06(2009.01)I;H04B17/00(2006.01)I;
教育装备采购网在线客服
京公网安备11010802043465号
