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    TD-LTE终端性能自动测试系统及方法

      摘要:本发明公开了一种TD-LTE终端性能自动测试系统,包括终端测试仪和PC机,所述终端测试仪在所述PC机的控制下启动性能测量,根据PC机中项目配置文件内的每个测量项目信息对所述待测TD-LTE终端进行性能测量,将测量结果发送至所述PC机。本系统能成功测量待测TD-LTE终端的性能,整个性能测量过程无需人为参与,人力成本减少,测量进度提高。本系统可以多次测量某个项目或全部项目。本发明同时公开了一种TD-LTE终端性能自动测试方法。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人湖北众友科技实业股份有限公司;
    • 发明人曾志雄;李婷;王波;晏建军;张家平;
    • 地址430074 湖北省武汉市高新技术开发区光谷一路众友科技
    • 申请号CN201010270356.9
    • 申请时间2010年09月02日
    • 申请公布号CN101931477B
    • 申请公布时间2013年07月10日
    • 分类号H04B17/00(2006.01)I;