摘要：本发明提供一种使用X射线荧光光谱仪测量镀层的装置，包括高压发生器、X射线管、准直器、镜片、摄像头、探测器、多道板、计算机，高压发生器连接X射线管，给X射线管提供高电压，X射线管连接准直器，由探测器探测样品反射的X射线，将电信号转换为电脉冲，由放大器MCA放大，放大后的信号传送到多道板，由多道板形成通讯信号传送到计算机处理。方法包括(1)产生高压；(2)在X射线管中，电子的动能主要转化为初级辐射；(3)采用不同大小和形状的准直器；(4)探测器窗口接收X荧光；(5)采用充满氙气的比例计数器；(6)放大器的信号传输到计算机中；(7)数据和样品的图像由显示器显示。
- 专利类型发明专利
- 申请人上海优特化工有限公司;
- 发明人宋涵华;
- 地址201822 上海市嘉定区迎园路400号
- 申请号CN200910051303.5
- 申请时间2009年05月15日
- 申请公布号CN101887038A
- 申请公布时间2010年11月17日
- 分类号G01N23/223(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
