摘要：本发明涉及测量保偏光纤和双折射介质的分布式偏振串扰方法及装置，属于光学测量技术领域；该方法包括耦合一个具有宽光谱的线性偏振光进入光学双折射介质，产生两个正交偏振模传输的信号；使两个正交偏振模之间产生延迟，从而输出一个调制光输出信号；再使得两正交偏振模相互混合；并使两正交偏振模之间的干涉；处理获得的干涉信号来识别光学双折射介质两正交偏振模之间偏振耦合的位置。该装置包括线性光源、光学延迟器、线性光学起偏器、光学干涉仪和处理器。采用此方法和装置可以抑制重影干涉峰数目和幅度，并可获得高测量灵敏度、宽动态范围和高空间测量精度。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京高光科技有限公司;
- 发明人姚晓天;
- 地址北京市海淀区长春桥路11号亿城大厦C1座303
- 申请号CN201010191225.1
- 申请时间2010年06月04日
- 申请公布号CN101871788B
- 申请公布时间2012年05月23日
- 分类号G01D5/26(2006.01)I;
教育装备采购网在线客服
京公网安备11010802043465号
