摘要：本发明公开了一种用于珠宝或宝石检测的反射测量光谱取样方法，包括以下步骤：A、将入射光投射到样品上；B、样品对入射光反射；C、样品上反射回来的光线通过镜面或漫反射分布于积分球内部；D、将步骤C中经过积分球后的反射光从底部或侧面采集。本发明用于珠宝或宝石检测的反射测量光谱取样方法由于在入射光反射过程中通过积分球直射或漫反射，再进行采样，有效获得用户所选的波长范围的“全光”信息，解决了随形样品测量过程中出现的不确定性问题，省去了单色扫描、机械分光等繁琐的操作步骤，极大地提高了珠宝或宝石检测分析测试的效率。本发明作为一种用于珠宝或宝石检测的反射测量光谱取样方法广泛应用于珠宝鉴定行业中。
- 专利类型发明专利
- 申请人广州标旗电子科技有限公司;
- 发明人宋光均;郑祥利;吴剑锋;蹇华丽;
- 地址510640 广东省广州市天河区金颖路1号1711房
- 申请号CN201010189681.2
- 申请时间2010年05月26日
- 申请公布号CN101858858A
- 申请公布时间2010年10月13日
- 分类号G01N21/31(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I;
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