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    一种二维轮廓形状的测量方法及测量装置

      摘要:本发明公开一种不依赖坐标的二维轮廓形状的测量方法及测量装置,根据本发明,首先通过基于该测量方法实现的测量装置与物体之间的相对运动测得轮廓各处的累积弧长及近似曲率之间的关系数据,然后根据所测量的关系数据重构出物体的二维轮廓形状。本发明提出了一种不依赖坐标的测量方法及测量装置,使得被测对象的尺寸不受测量装置自身的量程限制,并且在二维轮廓形状测量中,更加方便快捷。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人华中科技大学;武汉华中数控股份有限公司;
    • 发明人周会成;任清荣;吴卫东;宋宝;唐小琦;仰敬;黄东兆;
    • 地址430074 湖北省武汉市洪山区珞瑜路1037号
    • 申请号CN200910273162.1
    • 申请时间2009年12月09日
    • 申请公布号CN101750031A
    • 申请公布时间2010年06月23日
    • 分类号G01B11/24(2006.01)I;