摘要：基于单片机光栅双读数头的三维激光扫描测量系统属于三维空间信息获取技术领域，它解决了该领域建立三维激光扫描测量系统中的高精度转角测量及控制技术难题。该系统利用成熟的2D激光扫描测量技术，通过应用单片机、光栅和双读数头构建了可以消除或减弱偏心误差影响的转角测量单元；实现了系统中的转台旋转控制、转角测量控制、激光测量控制的协调同步，组建了一个三维激光扫描测量系统。此发明可以进行室内室外的三维空间数据的快速采集，为规划、文物保护、测绘、公安刑侦勘察、交通等部门提供一个进行快速三维空间数据采集的技术设备平台。
- 专利类型发明专利
- 申请人首都师范大学;北京四维远见信息技术有限公司;
- 发明人宫辉力;叶泽田;
- 地址100037 北京市海淀区西三环北路105号
- 申请号CN200810180028.2
- 申请时间2008年11月20日
- 申请公布号CN101738173A
- 申请公布时间2010年06月16日
- 分类号G01B11/26(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I;
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