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小屏蔽体电磁屏蔽效能测试装置、系统和方法

　　摘要：本发明提供了一种小屏蔽体电磁屏蔽效能测试装置、系统和方法。在需要测量的频率范围内选择多个频点进行测量。本发明使用点频辐射源作为信号源放在被测小屏蔽体内，不同频率通过不同的发射天线，将信号发射到小屏蔽体外，然后在小屏蔽体外通过相对应的接收天线进行接收，再放大后输出到一个频谱仪进行测量。其中发射天线在全频段内进行了小型化处理，且置于点频辐射源内，特别是磁场发射天线采用了全新设计和蜂窝式绕法，大大提高了发射效率。磁场接收天线采用了带有电屏蔽的共面环型天线全新的设计使得它具有翻转180°后基本不影响测量性能的特点。本发明的测试装置使用简便，成本较低，值得推广应用。

专利类型发明专利
申请人北京大泽科技有限公司;
发明人李立嘉;
地址100016北京市朝阳区将台路2号
申请号CN200910090031.X
申请时间2009年07月30日
申请公布号CN101662078A
申请公布时间2010年03月03日
分类号H01Q23/00(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I;H03K3/02(2006.01)I;H03L7/08(2006.01)I;