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    电子经纬仪空间坐标测量系统校准用靶标、底座和基准尺

      摘要:本发明是一种电子经纬仪空间坐标测量系统校准用靶标、底座和基准尺,旨在满足电子经纬仪测量系统在水平360°,俯仰±45°角度内,沿任意方向在数十米范围上进行校准的需要。其中:靶标为轴承钢球经过线切割加工而成的半球或球缺;包括粘贴有纸质环形标志的端面,及一种放置如上所述靶标的底座,一种安装如上所述靶标的基准尺。本发明满足了电子经纬仪测量系统在水平360°,俯仰±45°角度内,沿任意方向在数十米范围上进行校准的需要,并且,应用于校准的基准点的坐标值可以用精度更高的仪器,如激光雷达扫描仪实时的修正,以保证高的校准精度和降低对基准放置点环境的依赖。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人北京航天计量测试技术研究所;
    • 发明人刘勇;沈兆欣;陈晓晖;方芳;殷晴;贺燕;
    • 地址100076 北京市丰台区南大红门路1号
    • 申请号CN200810147440.4
    • 申请时间2008年08月18日
    • 申请公布号CN101655343B
    • 申请公布时间2011年11月09日
    • 分类号G01B7/00(2006.01)I;G01C25/00(2006.01)I;G01S7/40(2006.01)I;