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  • 教育装备采购网首页 > 知识产权 > 专利 > CN101576496A

    一种用于检测大分子受激辐射强度的方法及检测仪

      摘要:本发明涉及一种用于检测大分子受激辐射强度的方法及检测仪,采用反射式光路,光路中部件都放置在一个密闭的、不漏光的外壳中;采用差分式检测和计算,消去残余480nm激光及背景杂光对测试结果的影响。在测试具体的样品之前先用空的样品盒连同整个测试环境进行一次测试,并记下此时光电倍增管输出的电信号强度,记下这个强度N1作为基准;放入具体待测样品以后测得混合信号强度C,从C的数值中减去N1这个基准,就得到了反映着具体待测样品受激发射强度的电信号S。本发明的效果:整个光路模块的尺寸可以做到适合便携的程度,而整台仪器的尺寸主要取决于光路模块。另一方面,采用差分式的检测方法显著提高了检测的灵敏度。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人北京网新易尚科技有限公司;
    • 发明人舒咬根;毛德操;乐加昌;
    • 地址310007浙江省杭州市天目山路256号12楼浙大网新科技有限公司
    • 申请号CN200910099529.2
    • 申请时间2009年06月18日
    • 申请公布号CN101576496A
    • 申请公布时间2009年11月11日
    • 分类号G01N21/64(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G02B3/10(2006.01)I;