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    一种发光二极管主波长的测量方法

      摘要:本发明公开一种发光二极管主波长的测量方法,该方法用于光电技术领域中根据发光二极管的主波长来实现发光二极管色度参数的在线测量及分选,通过光谱仪的感光器件获得被测发光二极管的一系列离散的相对光谱能量分布曲线数据P(λi)并根据CIE-1931 2°配色函数,计算出其色度坐标后,由分区间判断算法和变步长查询算法计算出其准确的主波长值。本发明减少了主波长计算中的运算量,提高了工作效率,用于发光二极管色度参数的在线测量和分选。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人中科院广州电子技术有限公司;
    • 发明人肖国龙;李耀棠;龚正平;
    • 地址510070 广东省广州市越秀区先烈中路100号大院23栋
    • 申请号CN200910038136.0
    • 申请时间2009年03月24日
    • 申请公布号CN101566505B
    • 申请公布时间2011年10月12日
    • 分类号G01J9/00(2006.01)I;G01J3/46(2006.01)I;