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    基于偏振分析的光谱特性测量方法及其装置

      摘要:本发明涉及基于偏振分析的光谱特性测量方法及其装置,属于光谱分析技术领域,该方法包括:使被测光进入DGD装置,产生在相互垂直的偏振模式有不同差分群时延的输出光;测量输出光与DGD值相对应的光偏振态和偏振度;对测得的输出光偏振态和偏振度处理,生成被测光的光谱。该装置包括:一个DGD装置,通过改变DGD值,接收被测光并产生不同的群时延;一个光探测器,接收经过DGD装置的光信号,同时去测量输出光的偏振态和偏振度;一个数据处理装置,通过处理来自探测器的光偏振态和偏振度信息,获得被测光的光谱。本发明可以实现很快的测量速率,用来测量与时间函数有关的快速扫描激光。可以通过控制差分群时延值,获得最小频率间隔,提高光谱分辨率。
    • 专利类型发明专利
    • 申请人北京高光科技有限公司;通用光讯光电技术(北京)有限公司;
    • 发明人姚晓天;
    • 地址100089北京市海淀区长春桥路11号亿城大厦C1座303
    • 申请号CN200910001104.3
    • 申请时间2009年01月22日
    • 申请公布号CN101487738A
    • 申请公布时间2009年07月22日
    • 分类号G01J3/447(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I;