摘要：本发明属于光谱分析技术。为了降低阿达玛变换近红外光谱仪的体积，本发明提供了一种阿达玛变换近红外光谱仪检测光的方法，包括透过样品的入射光被准直后投射到光栅的步骤、投射到光栅的光发生第一次衍射并经准直后投射到微镜阵列的步骤，经微镜阵列调制并反射的光被准直后投射到所述光栅进行第二次衍射步骤，聚焦步骤A第二次衍射的光到检测器步骤。本发明可以广泛应用于物质的近红外光谱分析领域。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京华夏科创仪器技术有限公司;
- 发明人张新民;
- 地址100085北京市海淀区上地信息路2号2座10E
- 申请号CN200810239143.2
- 申请时间2008年12月10日
- 申请公布号CN101419164A
- 申请公布时间2009年04月29日
- 分类号G01N21/45(2006.01)I;
教育装备采购网在线客服
京公网安备11010802043465号
