摘要：本发明公开的使用光谱扫描或波长偏置进行光谱仪杂散光自动检测和动态扣除的方法，其首先采用单道或双道波长扫描方法获得光谱仪锐线光源的光谱扫描图谱；然后对光谱扫描数据进行处理，获得杂散光比率数据；再用获得的杂散光比率数据重置杂散光扣除程式中的杂散光比率值；最后在接收仪器信号正常测试的同时，动态扣除单道或双道杂散光。本发明在无须使用任何标准物质的前提下，不增加任何硬件成本，利用锐线光源本身的光谱性质，让光谱仪器进行杂散光自动检测及其动态扣除，极大的提高原子吸收光谱仪的光精度、线性范围、背景校正能力；该技术应用于原子吸收光谱仪高性能自吸背景校正时，仪器的背景校正性能可提高到在1Abs时大于100倍，2Abs时大于80倍。
- 专利类型发明专利
- 申请人上海光谱仪器有限公司;
- 发明人刘志高;刘瑶函;
- 地址201709 上海市青浦区白鹤镇工业园区4小区第4幢24号
- 申请号CN200710046942.3
- 申请时间2007年10月11日
- 申请公布号CN101408503B
- 申请公布时间2011年01月05日
- 分类号G01N21/31(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I;
教育装备采购网在线客服
京公网安备11010802043465号
