摘要：本发明提供一种表面粗糙度的检测装置，包括光源单元和光电探测器，光源单元发出光照射被测表面，光电探测器探测由被测表面反射的光得到检测信号，被测表面与检测装置的光轴和光电探测器位于同一平面内，被测表面以与所述光轴成第一角度放置，光电探测器以与所述光轴成第二角度放置，以防光从光电探测器反射回被测表面。本发明的表面粗糙度检测装置，既避免了反射光对测量结果的影响，又减少了吸收装置而降低成本。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京时代之峰科技有限公司;
- 发明人李粉兰;段海峰;郝建国;许祖茂;李俊国;
- 地址100085 北京市海淀区上地西路28号1幢二层
- 申请号CN200810223654.5
- 申请时间2008年09月28日
- 申请公布号CN101363725B
- 申请公布时间2011年04月20日
- 分类号G01B11/30(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
