摘要：本发明公开了一种基于大容量图像存储技术的电路板缺陷离线检测方法。该方法包括以下几个步骤：1)使用相机逐区域的拍摄需要检测的电路板，并保存每个局部区域的图像；2)使用图像拼接方法将多个单独区域的图像按其所拍摄区域的位置关系拼接成一幅完整的图像；3)使用离线电路板缺陷检测软件编辑电路板缺陷检测程式；4)使用离线电路板缺陷检测软件检测电路板缺陷。通过以上方法和技术，工程师可以最少的占用PCB生产线上电路板检测设备，在离线状态可以获得联机状态时完全相同的观察景象，从而显著的提高了PCB生产线上电路板检测设备的利用率，减少了制作缺陷检测程式的时间。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京优纳科技有限公司;
- 发明人郑众喜;李鹏杰;刘明星;
- 地址100085北京市海淀区上地东路9号得实大厦一层北区5号
- 申请号CN200810116850.2
- 申请时间2008年07月18日
- 申请公布号CN101334266A
- 申请公布时间2008年12月31日
- 分类号G01B11/00(2006.01);
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京公网安备11010802043465号
