摘要：本发明公开了一种低杂散光快速光谱仪及其测量方法，光谱仪包括光信号采集机构和光学平台，其特征在于光学平台内包括带通色轮，带通色轮上设置一组带通滤色片和通孔，入射光线经带通滤色片或通孔后在到达色散元件进行分光并最后被阵列探测器接收。通过带通色轮转动，入射光束逐个扫描带通滤色片，逐段精测被测样品的光谱仪相应响应函数。测量具有相类似光谱特征的同类样品时，先逐段精测和经过通孔全谱快测典型样品，利用两次测量结果计算出杂散光修正因子，对同类样品全谱快测并用杂散光修正因子修正就可实现快速精测。本发明有效地降低了快速光谱仪的测量杂散光，可快速精确地测量具有相类似光谱特征的一类样品的光谱曲线和相关的光色参数。
- 专利类型发明专利
- 申请人杭州远方光电信息股份有限公司;
- 发明人潘建根;李倩;
- 地址310053 浙江省杭州市滨江区滨康路669号
- 申请号CN200710069325.5
- 申请时间2007年06月15日
- 申请公布号CN101324468B
- 申请公布时间2011年08月10日
- 分类号G01J3/12(2006.01)I;G01J3/10(2006.01)I;
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京公网安备11010802043465号
