摘要：本发明涉及一种双光路全反射X荧光分析仪，包括至少两只不同的激发源(X光管)、上反射体、下反射体、载样片、样品压环，所述的两只不同的激发源共用同一电源并可自动切换。两只激发源与载样片和样品压环之间，各设有上反射体和下反射体，所述的上反射体和下反射体之间有很小间距，X射线以非常小的掠射角射入该间隙，并在上反射体和/或下反射体的反射面上产生全反射，最终到达被测样品处。本发明所述双光路全反射X荧光分析仪的优点在于：可以使用于测试不同的元素，使用中不需要多次更换激发源，多次切断电源、调整光路等，可以明显提高测试效率。并使得在分析灵敏度上由于使用不同激发源而得到互补提高，可操作性和方便性明显，能更好地满足使用者要求。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京普析通用仪器有限责任公司;
- 发明人田宇纮;
- 地址100081北京市海淀区中关村南大街甲8号威地科技大厦
- 申请号CN200610111339.4
- 申请时间2006年08月23日
- 申请公布号CN101131370A
- 申请公布时间2008年02月27日
- 分类号G01N23/223(2006.01);
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京公网安备11010802043465号
