摘要：本发明所描述的两端电子元件特性综合测试仪，具有单机一次完成对两端电子元件的各项电气参数进行综合测量的能力，同时两端电子元件特性综合测试仪也具有传统仪器对两端电子元件进行分类特性测量的能力。该测试仪内部具有直流电压表、双通道数字存储示波器、直流电压信号发生器、直流电流信号发生器、任意波形电压信号发生器、运算放大器、可调的电阻器和可编程的连接开关网络，该测试仪可以自动组成所需的各种测量电路并使用计算机完成相关特性的图示功能。该测试仪采用系统阶跃响应函数分析法测量两端电子元件的电容分量并采用正弦电压传递函数分析法测量两端电子元件的电感分量。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京飞腾三环电子科技有限公司;
- 发明人徐建;
- 地址100088北京市海淀区罗庄西里13号515室
- 申请号CN200610012025.9
- 申请时间2006年05月29日
- 申请公布号CN101082646A
- 申请公布时间2007年12月05日
- 分类号G01R31/00(2006.01);G01R27/00(2006.01);
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京公网安备11010802043465号
