涂层测仪除了可以测量磁性金属基体和非磁性基体上的涂层，亦可以测量金属电镀的镀层测厚仪，因此，涂层测厚仪，通常也称为涂镀层测厚仪。
涂层测厚仪
涂镀层测厚仪根据测量原理般有以下五种类型:
1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料般为:钢\铁\银\镍.此种方法测量度
2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量.此种方法较磁性测厚法度低
3.声波测厚法:目前内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但般价格昂贵\测量度也不.
4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层.般度也不.测量起来较其他几种麻烦
5.放射测厚法:此种仪器价格非常昂贵(般在10RMB以上),适用于些殊场合.
内目前使用为普遍的是1\2两种方法
常规涂层测厚仪的原理
对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关家和际标准中称为覆层(coating)。
覆层厚度测量已成为业、表面程质量检测的重要环，是产品达到优等质量标准的备手段。为使产品际化，我出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。
覆层厚度的测量方法主要有:楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者须遵守射线防护规范。X射线法可测薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的缘覆层测厚时采用。
随着术的日益步，别是近年来引入微机术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多能、度、实用化的方向了步。测量的分辨率已达0.1微米，度可达到1%，有了大幅度的提。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是业和科研使用广泛的测厚仪器。
测量原理
. 磁吸力测量原理及测厚仪
久磁铁(测头)与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。利用这原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可行测量。鉴于大多数业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用广。测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动成这记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。
这种仪器的点是操作简便、坚固耐用、不用电源，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制
电涡流测量原理
频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的水平。
采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳氧化膜。覆层材料有定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类务还是采用磁性原理测量较为合适
DRF系列测厚仪点:
具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
具有两种作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(APPL);
设有五个统计量:平均值(MEAN)、大值(MAX)、小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)
可行零点校准和二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差行修正;
具有存贮能:可存贮300个测量值;
具有删除能:对测量中出现的单个可疑数据行删除,也可删除涂层测厚仪存贮区内的所有数据，以便行新的测量;
可设置限界:对限界外的测量值能自动报警;
具有与PC机通讯的能:可将测量值、统计值传输至PC机，以便涂层测厚仪对数据行步处理; 具有电源欠压示能;
操作过程有蜂鸣声提示;
具有错误提示能;
具有自动关机能。
影响涂层测厚仪测量值度的因素
影响因素的有关说明
a 基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器行校准;亦可用待涂覆试件行校准。
b 基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器行校准。
c 基体金属厚度
每种仪器都有个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。
d 边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处行测量是不可靠的。
e 曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
f 试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。
g 表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。
g 磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚作。
h 附着物质
本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
i 测头压力
测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。
j 测头的取向
测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。
使用仪器时应当遵守的规定
a 基体金属性
对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。 对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
b 基体金属厚度
检查基体金属厚度是否过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法行校准。
c 边缘效应
不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处行测量。
d 曲率
不应在试件的弯曲表面上测量。
e 读数次数
通常由于仪器的每次读数并不相同，因此须在每测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局差异，也要求在给定的面积内行多次测量，表面粗时更应如此。
表面清洁度
测量前，应清除表面上的何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去何覆盖层物质
涂层测厚仪中F，N以及FN的区别:
F代表ferrous 铁磁性基体，F型的涂层测厚仪采用电磁感应原理， 来测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如:漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。
N代表Non- ferrous非铁磁性基体，N型的涂层测厚仪采用电涡流原理;来测量用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。
应用域
应用:用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如:漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制业、金属业、化业、商检等检测域。 涂层测厚仪在测量物体时,除测量方法外,还会有其他因数会导致测量结果有所偏差,具体影响因数请看下表. 测量方式法 磁性测量 涡流测量 基体金属磁性质
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