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泽泉科技应邀参加中国农学会2017年年会

教育装备采购网 2017-08-28 13:52 围观1774次

  2017年8月7日至9日,泽泉科技应邀参加了在河南郑州举办的中国农学会棉花分会2017年年会。本次大会由中国农学会棉花分会主办,河南省农业科学院、河南省棉花学会、棉花生物学国家重点实验室承办,吸引了来自中国农科院棉花研究所、河南农业大学、河南大学、河南省农业科学院、中国农业大学、中国农科院郑州果树研究所、中国农科院农田灌溉研究所等全国20多个科研机构及院校的400多名专家学者与会。

  

  会议期间,泽泉科技与参会老师热烈讨论了许多技术问题,推广了很多结合实验的技术解决方案。例如,与来自中国农科院棉花研究所和湖南省棉花科学研究所的老师探讨了根系研究的解决方案。由于生长在地下的特殊性,根系研究成为困扰广大科研工作者的难点,很多老师都在寻找原位测量根系的方法。美国CID公司的CI-600和CI-602就是一种能够提供原位测量根系仪器设备,该设备利用微根窗原理,配合预埋的透明根管,逐段扫描生长在地下的植物根系,最后通过软件分析根系生长发育情况。老师在现场也提出野外原位测量根系很难获得整个根系的信息,是否存在一种既能够获得整个根系信息,又不破坏根系生长的测量手段?答案是肯定的。我们提供了一种X光根系扫描技术,植物生长在特殊的对X光无干扰的容器和基质中,能够动态地监测和分析植物根系的整个生长过程。X光根系扫描系统能够测量最长1m的根系,解决了同类CT产品只有25cm测量范围的局限问题。同时,该X光扫描系统还能够测量植物果实、种子等,应用范围广泛。

  

  我们还与参会老师探讨了CONVIRON植物培养方案、植物光合荧光测量方案以及植物多酚测量方案等先进的植物生理生态测量技术。泽泉科技的高通量植物基因型-表型育种平台AgriPheno深受专家学者的欢迎,大家热烈讨论了“如何从基因型过渡到表型研究?”、“表型研究对分子育种有哪些帮助?”、“我们为什么要运用高通量的技术手段来研究表型?”等内容。

  

  本次年会,泽泉科技在展台上展出了美国CID公司的CI-340便携式光合仪、CI-203激光叶面积仪和CI-110冠层分析仪,法国ALCI公司的POP叶圆片采集器,加拿大CONVIRON公司培养箱控制器CMP6060等。其中法国ALCI公司的POP叶圆片采集器受到了众多与会专家的青睐。该设备小巧易用,能够设定采样个数,定量采集叶圆片,并可方便地将叶圆片转移至96孔板中,很好地减少人为误差,提高了采样速率和准确性,是植物采样的优秀助手。

  

  一直以来,泽泉科技不是单纯的产品销售,而是提供了很多卓有成效的解决方案,为客户解决了实验方面遇到的难题。泽泉科技愿意与更多的客户合作,共同为中国农业发展做出一份贡献!

点击进入上海泽泉科技股份有限公司展台查看更多 来源:教育装备采购网 作者:上海泽泉科技股份有限公司 责任编辑:李瑶瑶 我要投稿
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