X射线分析仪器技术是近年来迅速发展的一门分析技术，它可在材料研究、分析以及各种工业过程和质量控制中测定从金属、矿物、油和其他液体一直到塑料、药物、陶瓷材料、纳米材料及半导体等各种材料的化学成分和晶体结构。由于X射线分析技术有着不破坏样品的无损分析，制样经济方便，操作简单，分析结果重现性及精度高的优点，加上近几年来专业分析软件的智能化的发展，使得X射线分析技术越来越受到研究和分析工作者的青睐。
为了与X射线分析仪器界的同仁共同携手促进X射线分析仪器的发展和广泛交流最新的研究进展，荷兰帕纳科公司(PANalytical B.V.)将于2017年4月27日(周四)在南京举办<<帕纳科最新X射线分析技术研讨会>>，特邀请帕纳科资深XRD应用专家陈京一先生介绍帕纳科最新推出的台式X射线衍射仪Aeris及其应用;会议还将安排台式衍射仪Aeris的网络直播演示，为您呈现具有真正测角仪的台式XRD，揭开最新台式XRD易于操作却仍可获得优质数据的奥秘。此次会议还将介绍帕纳科XRF最新技术的发展及X射线分析技术在地质、科研、金属、制药等众多工业领域中的应用。同时，安排与会者参观地调研究院测试研究所X射线实验室。
除此之外，2017年1月1日帕纳科和马尔文正式合并，会议还特邀马尔文的应用专家为您带来粒度分析技术相关的新技术报告，丰富的会议内容，相信会为您带来诸多收获，期待您的莅临!
报告内容：
1，新型X射线衍射光学的发展
2，X射线荧光光谱分析技术的进展
3，X射线分析在工业检测及研发中的应用
4，马尔文形态学分析技术简介及应用
5，帕纳科台式分析仪器实验直播演示
特此邀请您光临出席此次研讨会，共同探讨X射线分析仪器技术的发展!
地点：江苏省地质调查研究院测试研究所
地址：江苏省南京市珠江路700号地质大厦一楼多功能厅
交通：乘坐地铁2号线西安门站2号出口向北步行500米左右
乘坐6路、52路、59路、80路公交车马标站下车即到。
联系人：李谦， 185-0168-3655;徐瑞革，186-1080-0172
