DDI(Display Driver IC)显示器面板驱动IC.用于将数字化处理的图像信号“扫描”到LCD 或PDP 屏幕上,在三星手机乃至整个移动市场中,显示器的发展趋势正在发生转变,不仅主流企业,连中小型系统供应商目前也将业务向DDI 领域拓展,DDI 技术更多广泛用于移动终端等电子产品,与多媒体移动应用处理器(AP)技术相结合,为更多厂商提供手机模组及多媒体应用处理器。对于电子产品而言,尤其是对数字移动设备EMC 的测试,是国外最重视的实验之一,也是很难通过的一项测试,特别是对移动设备的辐射噪声更难抑制。
以下测试案例正是我们在客户中所遇到的EMI 测试应用,在手机EMI 测试中所需要测试的一项工作之一:DDI EMI Noise 测试。例如用RIGOL DSA815 可以对手机屏幕DDI做简单的EMI 定性分析,测试方法及实测效果如图所示:
图一:测试的连接方法
方案配置:
设备名称 | 型号及参数 |
频谱分析仪 | RIGOL DSA815 (9KHz-1.5GHz) |
近场探头 | 德国Langer RF2 |
上位机软件 | Ultra spectrum |
外置前置放大器 | 根据需要选择 |
固定支架 | 根据需要选择 |
因在测试当中,需将频率范围内的700MHz-1GHz,间隔共计16个频点的峰值显示出来,但DSA815屏幕中最多所显示的峰值表仅为10个,所以需要结合上位机软件进行分析:
图二:利用上位机软件进行分析,将个频点测试结果进行读取
测试条件要求:
1. 频率范围 :700MHz---1GHz
2. RBW/VBW: 10KHz
3. Sweep Point:2000
4. Number Of Sweep:5
5. Attenuation: 0dbm
6. 测试环境良好,无其他复杂干扰信号
测试过程:
首先将DSA815恢复为出厂默认设置,连接近场探头,根据测试条件的要求,将起始频率设置为700MHz,终止频率设置为1GHz,扫宽设置为300MHz,前置放大器打开,输入衰减设置为0db,降低仪器本身的底噪,可以探测到更多的辐射信号。扫描次数设置为5次,扫描点2000个。将近场探头放置于手机屏幕顶端的IC处(需将手机屏幕点亮至白色时)。距离大约3mm,依次从上下左右进行扫描,测试结果即可在上位机软件上读取16个频点的峰值结果显示。
过程总结:
此案例中所应用的正是频谱分析仪最典型的一种应用:EMI预测试。可以对EMI做定性的分析,从而逐步改善我们的产品,达到相应的测试标准。减少到第三方测试的成本和节省更多的时间。