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高速LED检测系统介绍

教育装备采购网 2012-11-06 14:13 围观1985次

  Chame TESTER 高速LED检测系统

  Chame TESTER测试仪已完全重新设计,为符合测量精确及LED生产高速测试需求,整合了卓立汉光研发的SGM CCD摄谱仪及高速的Chame -3000系列LED电性分析仪, MEGA LED TESTER可用来测试所有LED相关之光学与电性参数。

  在生产过程中快速测量LED参数对于仪器是项特别的挑战,因为符合CIE的测量标准时,出光效率非常低;在这同时,确保生产设备可以有效益生产的运转,高速的测量时间是必要的,多项的LED的光学与电性参数测试均涵盖其中,不同封装的LED适用范围也必须由小的SMT设计以至于高功率的LED。

  ◆Spectral radiant flux ( W/nm ):绝对光谱

  ◆Peak wavelength (λp) : 最高波长

  ◆Dominant wavelength (Hue;λd ):色域波长

  ◆Center wavelength (λc): 中心波长

  ◆Excitation Purity (Chroma;%): 色纯度

  ◆Chromaticity Coordinates (x,y @1931):色坐标

  ◆C.C.T. (correlated color temperature) : 色温

  ◆C.R.I. (color rendering index ) : 演色指数

  SGM100确保了主要的测量参数最高精确度及再现性,如LED主波长及的色坐标等,在传统高速的电性测量速度下,对SGM100测量速度要求加快许多。如图所示,其清楚的描述客户确实可以减少电子测量的时间,尤其是搭配LED分选机高速的测试需求。

  新的可调式使用者接口组态与扩充的数组功能合并,以符合所有分BIN的要求。新的装置特征系依据统计分析及整体性考虑,也是针对白光晶圆与Lamp LED分选设备,都搭配了专用探测模块。

  完整的测量配置(光强,光通量,色彩值,辐射模式的测量)

  快速测量周期l <30mS

  完全兼容 CIE127-2007 测量标准l,NIST 标准溯源

  经济完备的CCD分光技术l以及智能化色彩分析软件

  可以连接系统各选项的光强与光通量探头l

  优化的质量保证l

  Chame LED软件,DLLs的驱动。l

  光强n [cd]

  光通量[LM]n

  主波长,中心波长,波峰测量n

  色坐标,色温,演色指数n

  空间辐射模式n

  SGM100光学检测系统是采用完备的CCD与光栅分光技术来测量LED的发光特性与参数。各种光学适配器都可以根据测量需要,可以搭配到SGM100的输入端,定义成相应的光强或光通量等光学单位。

  除了具吸引力的价格外,还有优秀的仪器测量精确度。SGM100是按照精密仪器标准制造的,SGM100光栅摄谱仪及其配件在出厂前都按照NIST标准校正过,USB接口随插即用。

  SGM100 LED光学检测系统升级与服务

  该产品的主要功能就是对LED光学特性及参数进行测量。凭借多年服务业界的经验以及强大的技术力量,对您未来成长的需求提供配套的升级服务。

  实用简单Chame ED 光谱色度分析软件:

  软件可以支持您使用基本的LED测量,函数分析,和相应档处理;并支持各类多功能电表支持你所需要的LED电性分析,稍微懂得计算机的产线作业人员就能操作,保证你的生产质量。

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